1.在測容性負(fù)載阻值時(shí)，絕緣電阻測試儀輸出短路電流大小與測量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么?

絕緣電阻測試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測試品存在電容量時(shí)，在測試過程的開始階段，絕緣電阻測試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻測試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過程的耗時(shí)就會加長。其長度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定(單位為秒)。請注意，給電容充電的電流與被測試品絕緣電阻上流過的電流，在測試中是一起流入絕緣電阻測試儀內(nèi)的。絕緣電阻測試儀測得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測得的阻值將偏小。

如：額定電壓為5000V的絕緣電阻測試儀，若其短路輸出電流為80μA(日本共立產(chǎn))，其內(nèi)阻為5000V/80μA＝62MΩ

如：試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9(秒)即在18秒時(shí)刻，電容上的充電電流仍有11.3μA。

由此可見，僅由充電電流而形成的等效電阻為5000V/11.3μA＝442MΩ,若正常絕緣為1000MΩ，則顯示的測得絕緣值僅為306MΩ。這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測試阻值大；容量大，測試阻值小。

所以，為保障準(zhǔn)確測得R15s，R60s的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻測試儀。我國的相關(guān)規(guī)程要求絕緣電阻測試儀輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1mA、2mA、5mA，要求高的場合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻測試儀。

2.為什么測絕緣時(shí)，不但要求測單純的阻值，而且還要求測吸收比，極化指數(shù)，有什么意義？

在絕緣測試中，某一個(gè)時(shí)刻的絕緣電阻值是不能全面反映試品絕緣性能的優(yōu)劣的，這是由于以下兩方面原因，一方面，同樣性能的絕緣材料，體積大時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻小，體積小時(shí)呈現(xiàn)的絕緣電阻大。另一方面，絕緣材料在加上高壓后均存在對電荷的吸收比過程和極化過程。所以，電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜、電機(jī)等許多場合的絕緣測試中應(yīng)測量吸收比-即R60s和R15s的比值，和極化指數(shù)-即R10min和R1min比值，并以此數(shù)據(jù)來判定絕緣狀況的優(yōu)劣。

3．在高壓高阻的測試環(huán)境中，為什么要求儀表接"G"端連線？

在被測試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí)，被測試品表面受潮濕，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀表"G"端是將被測試品表面泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測試回路，消除泄漏電流引起的誤差。

4．在校測某些型號絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬用表DCV檔測L、E兩端電壓，為什么電壓會跌落很多，而數(shù)字式萬用表則不會？

用普通的指針式萬用表直接在絕緣電阻測試儀"L"、"E"兩端測量其輸出的額定直流電壓，測量結(jié)果與標(biāo)稱的額定電壓值要小很多(超出誤差范圍)，而用數(shù)字萬用表則不會。這是因?yàn)橹羔樖饺f用表內(nèi)阻較小，而數(shù)字萬用表內(nèi)阻相對較大。指針式萬用表內(nèi)阻較小，絕緣電阻測試儀L-E端輸出電壓降低很多，不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是，用萬用表直接去測絕緣電阻測試儀的輸出電壓是錯誤的，應(yīng)當(dāng)用內(nèi)阻阻抗較大的靜電高壓表或用分壓器等負(fù)載電阻足夠大的方式去測量。

5．能不能用兆歐表直接測帶電的被測試品，結(jié)果有什么影響，為什么？

為了人身安全和正常測試，原則上是不允許測量帶電的被測試品，若要測量帶電被測試品，不會對儀表造成損壞(短時(shí)間內(nèi))，但測試結(jié)果是不準(zhǔn)確的，因?yàn)閹щ姾?，被測試品便與其它試品連結(jié)在一起，所以得出的結(jié)果不能真實(shí)的反映實(shí)際數(shù)據(jù)，而是與其它試品一起的并聯(lián)或串聯(lián)阻值。

6．為什么電子式絕緣電阻測試儀幾節(jié)電池供電能產(chǎn)生較高的直流高壓?

這是根據(jù)直流變換原理，經(jīng)過升壓電路處理使較低的供電電壓提升到較高的輸出直流電壓，產(chǎn)生的高壓雖然較高但輸出功率較小。

7．用絕緣電阻測試儀測量絕緣電阻時(shí)，有哪些因素會造成測量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確，為什么？

A)電池電壓不足。電池電壓欠壓過低，造成電路不能正常工作，所以測出的讀數(shù)是不準(zhǔn)確的。

B)測試線接法不正確。誤將"L"、"G"、"E"三端接線接錯，或?qū)?G"、"L"連線"G"、"E"連線接在被測試品兩端。

C)"G"端連線未接。被測試品由于受污染潮濕等因素造成電流泄漏引起的誤差，造成測試不準(zhǔn)確，此時(shí)必須接好"G"端連線防止泄漏電流引起誤差。

D)干擾過大。如果被測試品受環(huán)境電磁干擾過大，造成儀表讀數(shù)跳動?；蛑羔樆蝿?。造成讀數(shù)不準(zhǔn)確。

E)人為讀數(shù)錯誤。在用指針式絕緣電阻測試儀測量時(shí)，由于人為視角誤差或標(biāo)度尺誤差造成示值不準(zhǔn)確。

F)儀表誤差。儀表本身誤差過大，需要重新校對。

8．高阻絕緣表現(xiàn)場測容性負(fù)載時(shí)(如主變)，指針顯示阻值在某一區(qū)間突然跌落(不是正常測試時(shí)的zui大值區(qū)間內(nèi)的緩慢小幅擺動)，快速來回?cái)[動，是什么原因？

造成該現(xiàn)象主要是試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)某部位出現(xiàn)放電打火。絕緣表向容性被測試品充電中，當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí)，如果儀表內(nèi)部測試線或被測試品中任一部位有擊穿放電打火，就會出現(xiàn)上述現(xiàn)象。判別辦法：(1)儀表測試座不接入測試線，開啟電源和高壓，看儀表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生(若有打火可聽到放電打火聲)。(2)接上L、G、E測試線，不接被測試品，L測試線末端線夾懸空，開啟高壓，看測試導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生。若有打火現(xiàn)象，則檢查：a)L、G測試線芯線(L端)與裸露在外的線(G端)是否過近，產(chǎn)生拉弧打火。b)L端芯線插頭與測試座屏蔽環(huán)或測試夾子與被測試品接觸不良造成打火。c)測試線與插頭、夾子之間虛焊斷路，造成間隙放電。(3)接入被測試品，檢查末端線夾與試品接觸點(diǎn)附近有無放電打火。(4)排除以上原因，接好被測試品，開啟高壓，若儀表仍有上述現(xiàn)象則說明被測試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。

9．為什么不同絕緣電阻測試儀測出示值存在差異？

由于高壓絕緣電阻測試儀測試電源非理想電壓源，內(nèi)阻Ri不同測量回路串接電阻Rm不同，動態(tài)測量準(zhǔn)確度不同，以及現(xiàn)場測量操作的不合理或失誤等，不同型號絕緣電阻測試儀對同一被測試品的測量結(jié)果會存在差異。實(shí)際測量時(shí)，應(yīng)結(jié)合絕緣電阻測試儀絕緣試驗(yàn)條件的特殊性盡量降低可能出現(xiàn)的各種測量誤差：

(1)不同型號的絕緣表測量同一試品時(shí)，應(yīng)采用相同的電壓等級和接線方法。例如在測量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當(dāng)繞組引出端始終接絕緣電阻測試儀L端鈕時(shí)，就有：E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法；E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法(低電位屏蔽)；G端鈕接在高壓繞組套管的表面，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法(高電位屏蔽)。E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線方法。不同結(jié)構(gòu)、制式的絕緣電阻測試儀，G端鈕電位不同，G端鈕在套管表面的安放位置也應(yīng)隨之改變。(KD2677為低電位屏蔽，即G端鈕為低電位)。

(2)不同型號絕緣電阻測試儀的量程和示值的刻度方法不同，刻度分辨力不同，測量準(zhǔn)確度等級不同，都會引起示值間的差異。為了保證對電力設(shè)備的準(zhǔn)確測量，應(yīng)避免選用準(zhǔn)確度低，使用不方便的搖表。

(3)試品大多含容性分量，并存在介質(zhì)極化現(xiàn)象，即使測試條件相同也難以獲得理想的數(shù)據(jù)重復(fù)性。

(4)測量時(shí)，絕緣介質(zhì)的溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度一致，一般允許相差±5%。

(5)應(yīng)在特定時(shí)間段的允許時(shí)間差范圍內(nèi)，盡快地讀取測量值。為使測量誤差不高于±5%，讀取R60S的時(shí)間允許誤差±3S，而讀取R15S的時(shí)間不應(yīng)相差±1S。

(6)高壓測試電源非理想電壓源，重負(fù)荷(被測試品絕緣電阻值小)時(shí)，輸出電壓低于其額定值，這將導(dǎo)致單支路直讀測量法絕緣電阻測試儀測量準(zhǔn)確度因轉(zhuǎn)換系數(shù)的改變而降低。這種改變因絕緣電阻測試儀測試電源負(fù)荷特性不同而異。

(7)不同動態(tài)測試容量指標(biāo)的絕緣電阻測試儀，試驗(yàn)電壓在試品上(及采樣電阻上)的建立過程與對試品的充電能力均存在差異，測量結(jié)果也會不同，使用低于動態(tài)測試容量指標(biāo)門限值的絕緣電阻測試儀測量時(shí)，由于儀表存在慣性網(wǎng)絡(luò)(包括指針式儀表的機(jī)械慣性)導(dǎo)致示值響應(yīng)速度較慢，來不及正確反映試品實(shí)在絕緣電阻值隨時(shí)間的變化規(guī)律，尤其是在測試的起始階段，電容充電電流未*衰減為零，更會使R15S和吸收比讀測值產(chǎn)生較大誤差(偏小)。

(8)試品絕緣介質(zhì)極化狀況與外加試驗(yàn)電壓大小有關(guān)。由于試驗(yàn)電壓不能迅速達(dá)到額定值，或因絕緣電阻測試儀測試電源負(fù)荷特性不同導(dǎo)致施加于試品上試驗(yàn)電壓的差異，使試品初始極化狀況不同，導(dǎo)致吸收電流不同，使緣電阻測量的示值不同。

(9)國外某些絕緣電阻測試儀的試驗(yàn)高電壓連續(xù)可調(diào)，開機(jī)后先由零調(diào)節(jié)至額定值。絕緣電阻測試儀讀數(shù)起始時(shí)間的不確定性，以及高壓達(dá)到額定值時(shí)間的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的差別。

(10)不同絕緣電阻測試儀現(xiàn)場干擾的敏感度和抵御能力不同，對同一試品的讀測值會存在差異。

(11)數(shù)據(jù)隨機(jī)起伏的常規(guī)測量誤差和絕緣電阻測試儀方法誤差不同等引起示值間的差異。

(12)介質(zhì)放電不充分是重復(fù)測量結(jié)果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對應(yīng)和可逆的特點(diǎn)，若需對同一試品進(jìn)行第二次重復(fù)測量，*次測量結(jié)束后的試品短路放電間歇時(shí)間一般應(yīng)長于測量時(shí)間，以放盡所積聚的吸收電荷量，使試品絕緣介質(zhì)充分恢復(fù)到原先無極化狀態(tài)，否則將影響第二次測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度。為使被試品上無剩余電荷，每一次試驗(yàn)前也應(yīng)該將測量端對地短路放電，有時(shí)甚至需時(shí)近1小時(shí)，并應(yīng)拆除與無關(guān)設(shè)備間的聯(lián)線?？傊?，同一試品不同時(shí)期的絕緣測量，應(yīng)采用相同的試驗(yàn)電壓等級和接線方法，并盡可能使用同一型號或性能相近的絕緣電阻表，以保證測量數(shù)據(jù)的可比性。

(13)zui后還應(yīng)特別強(qiáng)調(diào)選用動態(tài)測量準(zhǔn)確度較低和高壓測試電源容量較低的儀表，由于電容充電電流尚未*衰減為零，以及儀表示值不能準(zhǔn)確地實(shí)時(shí)跟隨試品視在絕緣電阻值的變化，讀測R15S阻值偏低，出現(xiàn)較大誤差，導(dǎo)致試品吸收比測試值虛假偏高，應(yīng)引起測試人員特別重視。這也可能是各種型號高壓絕緣電阻測試儀測量同一試品時(shí)吸收比讀測值存在差異的主要原因。由此也說明吸收比判比指標(biāo)不及極化指數(shù)科學(xué)和客觀